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上海勤確科技有限公司成立于2019年4月24日,坐落于上海市崇明區(qū)長興鎮(zhèn)潘園公路1800號上海泰和經(jīng)濟發(fā)展區(qū),注冊資金200萬。 我們有一支成熟的自主研發(fā)團隊,針對于光通信行業(yè)先進的自動化應(yīng)用方面,真正的生產(chǎn)級、多任務(wù)的軟件控制系統(tǒng)。為了滿足光通信市場對高精度,高效率,低成本耦合系統(tǒng)的需求,團隊成員均在行業(yè)內(nèi)有10年以上的工作經(jīng)驗,多年來為客戶提供專業(yè)及高性價比的各種有源、無源光器件耦合設(shè)備的定制服務(wù),改裝服務(wù)及其他技術(shù)支持。

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2025-03-15 07:01:55

探針臺概要:晶圓探針臺是在半導(dǎo)體開發(fā)和制造過程中用于晶片電氣檢查的設(shè)備。在電氣檢查中,通過探針或探針卡向晶片上的各個設(shè)備提供來自測量儀器或測試器的測試信號,并返回來自設(shè)備的響應(yīng)信號。在這種情況下,晶片探測器用于輸送晶片并接觸設(shè)備上的預(yù)定位置。探針臺是檢測芯片的重要設(shè)備,在芯片的設(shè)計驗證階段,主要工作是檢測芯片設(shè)計的功能是否能夠達到芯片的技術(shù)指標(biāo),在檢測過程中會對芯片樣品逐一檢查,只有通過設(shè)計驗證的產(chǎn)品型號才會量產(chǎn)。晶圓測試一般在晶圓廠、封測廠或?qū)iT的測試代工廠進行,主要用到的設(shè)備為測試機和探針臺。探針尖接觸電阻即探針尖與焊點之間接觸時的層間電阻。上海射頻探針臺加工廠家

12英寸晶圓在結(jié)構(gòu)上具有更高的效率,以200mm工藝為例,在良率**的情況下,可出88個完整的晶粒,理論上因方塊切割所造成的邊緣浪費率為23%(約有20個晶粒因缺角破損而無法使用);而若以300mm工藝進行切割,則產(chǎn)出效率將更驚人,可產(chǎn)出193個完整的晶粒,會浪費19%的晶圓面積(36個不完整晶粒)。此外,12英寸廠的規(guī)模經(jīng)濟優(yōu)勢也不容小視;300mm的建廠成本與200mm的建廠成本比值約為1.5,而晶圓廠建廠成本與晶圓面積的比值卻少于2.25,這意味著只要多投入1.5倍的建廠成本,即可多生產(chǎn)2.25倍的晶粒!少少的邊際投入即可獲取的收益,約可節(jié)省33%的成本;如此高報酬的投資效益隨著技術(shù)的發(fā)展而讓人們受益。上海射頻探針臺加工廠家上海勤確科技有限公司擁有一批年輕、專業(yè)的員工。

手動探針臺的使用方式:待測點位置確認(rèn)好后,再調(diào)節(jié)探針座的位置,將探針裝上后可眼觀先將探針移到接近待測點的位置旁邊,再使用探針座X-Y-Z三個微調(diào)旋鈕,慢慢的將探針移至被測點,此時動作要小心且緩慢,以防動作過大誤傷芯片,當(dāng)探針針尖懸空于被測點上空時,可先用Y軸旋鈕將探針退后少許,再使用Z軸旋鈕進行下針,然后則使用X軸旋鈕左右滑動,觀察是否有少許劃痕,證明是否已經(jīng)接觸。確保針尖和被測點接觸良好后,則可以通過連接的測試設(shè)備開始測試。常見故障的排除當(dāng)您使用本儀器時,可能會碰到一些問題,下表列舉了常見的故障及解決方法。手動探針臺技術(shù)參數(shù)。

探針臺是半導(dǎo)體(包括集成電路、分立器件、光電器件、傳感器)行業(yè)重要的檢測裝備之一,其普遍應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量,旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。探針臺用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測試環(huán)節(jié),負(fù)責(zé)晶圓的輸送與定位,使晶圓上的晶粒依次與探針接觸并逐個測試。在半導(dǎo)體器件與集成電路制造工藝中,從單晶硅棒的制取到終器件制造的完成需經(jīng)過復(fù)雜的工序,可分為前道工序與后道工序,探針臺是檢測半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)、光參數(shù)的關(guān)鍵設(shè)備。經(jīng)過檢測,探針臺將參數(shù)特性不符合要求的芯片記錄下來,在進入后序工序前予以剔除,降低器件的制造成本。某些針尖位置高的扎不上AL層,使測試時這些針上電路不通。

晶圓是制作硅半導(dǎo)體積體電路所用的硅晶片,其原始材料是硅。高純度的多晶硅溶解后摻入硅晶體晶種,然后慢慢拉出,形成圓柱形的單晶硅。硅晶棒在經(jīng)過研磨,拋光,切片后,形成硅晶圓片,也就是晶圓。半導(dǎo)體工業(yè)對于晶圓表面缺陷檢測的要求,一般是要求高效準(zhǔn)確,能夠捕捉有效缺陷,實現(xiàn)實時檢測。較為普遍的表面檢測技術(shù)主要可以分為兩大類:針接觸法和非接觸法,接觸法以針觸法為象征;非接觸法又可以分為原子力法和光學(xué)法。在具體使用時,又可以分為成像的和非成像的。探針卡使芯片與封裝后成品管腳焊接質(zhì)量差,容易引起短路。上海自動探針臺供應(yīng)

適用于對芯片進行科研分析,抽查測試等用途。上海射頻探針臺加工廠家

射頻測試探針必須具有與測試點相匹配的阻抗。通常要做的是在設(shè)計中各個預(yù)先計劃好的測試點焊接射頻同軸電纜(尾纖)。這有助于確保足夠的阻抗匹配,并且測試點可以選在對整體設(shè)計性能產(chǎn)生較小影響的區(qū)域。其他方法包括將用的射頻探針焊接到自定義焊盤或者引線設(shè)計上,從而減少侵入性探測。高性能測試設(shè)備供應(yīng)商可以提供高達毫米波頻率的用探針。但這些探針的末端通常都很昂貴,且無法持續(xù)訪問組成元件的電路。因此,它們在大容量的測試應(yīng)用或者故障排除應(yīng)用中受到限制,更適合于原型設(shè)計和研發(fā)。上海射頻探針臺加工廠家

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